معرفی کتاب / میکروسکوپ های الکترونی و روشهای آنالیز پیشرفته
توضیحات
کتاب مبانی و کاربرد میکروسکوپهای الکترونی و روشهای آنالیز پیشرفته: یکی از مسائل مهم و اساسی در بررسی مواد طبیعی و صنعتی، تعیین ویژگی ریزساختارهای موجود در آنهاست. امروزه تعیین ویژگی ریزساختارها، بهعنوان یکی از جامعترین ابزارهای تجربی در آنالیزهای کمی و ریزساختاری محسوب میشود و بهطور گستردهای در پژوهش و صنعت مورد استفاده قرار میگیرد.
بررسی مواد در حالت جامد توسط میکروسکوپهای الکترونی تراگسیل (TEM) مدرن، اطلاعات منسجمی درباره ترکیب شیمیایی و ساختاری فراهم میآورد که برای مشخص نمودن نمونهها حتی در مقیاس نانومتر هم در حالت جامد کفایت میکند.
هدف از تدوین کتاب «مبانی و کاربرد میکروسکوپهای الکترونی و روشهای آنالیز»، آشنایی با اصول و مبانی روشهای میکروسکوپی با الکترون و کاربرد آنها در پژوهش و صنعت است.
در فصل اول پس از آشنایی مقدماتی با مبانی الکترون میکروسکوپی، به صورت مختصر در مورد خانواده میکروسکوپهای الکترونی، کاربردها، قابلیتها و محدودیتهای آنها بحث میشود.
فصل دوم به برهمکنشهای بین الکترونها و ماده و نیز مقایسه بین عملکرد الکترون و نور اختصاص یافته است.
در فصل سوم انتخاب فنآوری، راهبرد و تاکتیکهای آنالیز ریزساختارها و اساس آنالیزهای کیفی و کمی بحث میشود. دو سیستم آنالیز عمده یعنی آنالیز تفکیک انرژی (EDX) و آنالیز تفکیک طول موج (WDS) به همراه مزیتها و معایب هرکدام از آنها نیز مورد بررسی قرار گرفتهاند.
در فصل چهارم روشهای ایجاد تصویر توسط میکروسکوپهای الکترونی به تفصیل بحث شده و سازوکار کنتراست، ایجاد تصویر توسط الکترونهای ثانویه، پس تابش، کاتدولومینسانس و نگاشت پرتو X نیز بررسی شدهاند.
فصل پنجم به آمادهسازی نمونهها برای میکروسکوپهای الکترونی ) EPMA، SEM و (TEM میپردازد.
در فصل ششم انواع میکروسکوپهای الکترونی تراگسیل (TEM)، کاربردها، محدودیتها و بخشهای مهم آنها مورد بحث قرار میگیرند. سازوکار کنتراست TEM، پراش الکترون، تجزیه و تحلیل دادهها و آنالیز کمی و کیفی از مهمترین مباحث این فصل است. پایان این فصل نیز به آشنایی مقدماتی با اصول EELS تمرکز دارد.
در فصل هفتم کتاب، میکروسکوپهای الکترونی روبشی (SEM)، کاربردها، قابلیتها، محدودیتها، بخشّهای مهم آن، بهدست آوردن سیگنال، اطلاعات حاصل از SEM، پردازش و ثبت تصاویر مورد بحث قرار میگیرند.
در فصل هشتم الکترون مایکروپروب، اصول تکنیک، کاربردها، فنآوریها در علوم زمین و بخشهای مهمEPMA به تفصیل بحث شدهاند. آنالیزهای کمی، ارائه اطلاعات و نتایج، کاوش، نگاشت و تصحیحات ZAF از موارد مطرح شده در این فصل هستند.
در فصل نهم کتاب، میکروسکوپهای الکترونی آنالیزی روبشی (A-SEM) و تراگسیل (AEM) ارائه میشوند. چگونگی ایجاد پرتوهای X در داخل یک نمونه، بخشهای مهم دستگاههای AEM و ASEM، کاربردهای آنها، محدودیتها و سیستمهای کاوش در این دستگاهها گفته میشود.
در فصل آخر کتاب، روشهای میکروآنالیز پیشرفته از جمله پرتو X حاصل از سینکروترون (SRS) معرفی میشوند. سعی شده تا حد امکان دستگاههای میکروسکوپهای الکترونی بهصورتی معرفی شوند که جنبههای کاربردی اختصاصی هرکدام از آنها در آنالیز برای پژوهشگرانی که در تحقیقات خود به این دستگاهها احتیاج دارند بیان و در تفسیر نتایج آنالیز مورد استفاده قرار گیرند.
عناوین فصلهای این کتاب به شرح زیر است:
فصل ۱: مبانی روشهای الکترون میکروسکوپ
فصل ۲: برهمکنش الکترون-ماده
فصل ۳: آنالیز نمونهها
فصل ۴: ایجاد تصویر در میکروسکوپهای الکترونی
فصل ۵: آمادهسازی نمونه برای میکروسکوپهای الکترونی
فصل ۶: میکروسکوپهای الکترونی تراگسیل
فصل ۷: میکروسکوپ الکترونی روبشی
فصل ۸: ریزکاوشگر الکترونی یا الکترونپروب میکروآنالیز
فصل ۹: میکروسکوپهای الکترونی آنالیزی
فصل ۱۰: روشهای پیشرفته میکروآنالیز و تصویربرداری به کمک سینکروترون